開發和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。 Keithley參數波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設備類型和測試參數。Keithley參數波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和高功率脈沖IV曲線測量。

特點

• 完善的解決方案，價格實惠且性能優異

• 可現場升級和重新配置，將 PCT 轉換成可靠性或晶片分類測試儀

• 可配置功率電平：

• 200V 至 3kV

• 1A 至 100A

• 寬動態范圍：

• μV 至 3kV

• fA 至 100A

• 全量程容-電壓 (C-V) 能力：

• fF 至 μF

• 支持 2、3 和 4 端器件

• 高達 3kV DC 偏移

• 高性能測試夾具支持一系列軟件包類型

• 探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標準同軸三線電纜等