產品綜述

6433系列光波元件分析儀包括6433D（10MHz～20GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）。6433系列是面向高速電-光（E/O）器件、光-電（O/E）器件、光-光（O/O）器件特性測試的最新解決方案，調制頻率范圍覆蓋10MHz~67GHz，支持不同頻率范圍、頻率間隔、中頻帶寬的設置，最小頻率分辨率達到1Hz。6433系列采用一體集成的設計方案，通過寬帶硬件優化設計，構建網絡誤差模型，利用核心校準算法，實現了一鍵式寬帶快速掃頻測試，主要用于現代高速光傳輸系統中核心電-光器件（電光調制器、直接調制激光器、光發射組件）、電-光器件（PIN光電探測器、APD光電探測器、光接收組件）、光-光器件（光纖濾波器等光無源器件）的帶寬、幅頻響應、相頻響應、群時延等參數測試。

功能特點

主要特點

l  校準方便快捷，向導式操作流程

l  一體化多功能操作界面

l  大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

l  用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用

l  單端-平衡光電器件模式測量

l  多功能化工具箱

l  內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

校準方便快捷，向導式操作流程

6433系列光波元件分析儀在校準方面具有清晰的操作流程，主要包括電校準和光路參數校準，通過采用向導式操作提示為用戶提供快速高精度校準。

一體化多功能操作界面

6433系列光波元件分析儀具備了電-電、電-光、光-電、光-光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，滿足了目前絕大多數通用器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。

大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

采用了高精度和響應平坦的內部核心器件，結合通過設定不同中頻帶寬和平均，可獲得更大的動態測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結果的更多細節。