第5年
菲希爾 SIGMASCOPE GOLD黃金檢測儀
菲希爾 MMS PC2測量鍍層厚度和材料
菲希爾 HM2000專業級納米壓痕測量系
菲希爾 X-RAY XDV-μ SEMI晶圓微結
菲希爾 MMS INSPECTION DPM露點儀
菲希爾 HM2000 S納米壓痕測量系統
菲希爾 X-RAY XDAL X射線熒光分析
菲希爾 GOLDSCOPE SDX射線熒光儀器
菲希爾 COULOSCOPE CMS2 / CMS2 STE
菲希爾 X射線光學器件
用于光伏的自動XRF系統
FISCHERSCOPE? X-RAY 5000系統可以連續測量大面積基板（例如在光伏中）上薄鍍層的厚度。該系列的設備由模塊化單元組成，易于在生產線上安裝。X-RAY5000可以在正?？諝饣蛘婵罩羞\行。此外，該設備的設計易于維護：測量頭可以在不釋放真空的情況下進行維修。
如果產品在制造過程中移動或凸出，可能會使測量結果發生偏差。 為此Fischer的WinFTM軟件內置了距離補償功能，該功能可以補償高達1厘米的波動的影響，而無需額外的距離傳感器。
特點
與生產控制系統相連的運行過程中的連續測量
靈活的用途：用于真空或空氣中的測量； 適用于高達400°C的樣品溫度
可選配水冷
特別穩健的設計和結構，可在苛刻的條件下持續精確的測量
非常適合于大表面產品的鍍層厚度測量和材料分析
X射線源，探測器和基本濾片都可由客戶選擇
符合DIN ISO 3497和ASTM的系統 B 568標準
應用
太陽能行業中CIGS，CIS，CdTe和CdS層的厚度
金屬條，金屬箔和塑料膜上的幾微米厚的薄鍍層
光伏中CIGS，CIS，CdTe和CdS層的組成
連續生產中的鍍層厚度控制
濺射和電鍍廠的過程監控
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