高端全能型
XDV?-SDD是Fischer產(chǎn)品組合中功能最強(qiáng)大的X射線熒光分析儀之一。該XRF光譜儀配備了特別靈敏的硅漂移檢測器(SDD)。這使您能夠無損地測量最薄的鍍層,例如引線框架上約2nm厚的金涂層。
同時(shí),XDV-SDD非常適合無損分析材料。例如,它對塑料中痕量鉛的檢測靈敏度約為2 ppm,比RoHS或CPSIA要求的值低幾個(gè)數(shù)量級。
為了使您可以為每次測量創(chuàng)建理想的條件,XDV-SDD具有可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片,這樣就可以科學(xué)地進(jìn)行工作。此外,這種耐用的設(shè)備易于操作,而且是專為工業(yè)用途的系列測試而設(shè)計(jì)。自動擴(kuò)展的測量平臺和測量現(xiàn)場的實(shí)時(shí)圖像等功能使您的日常工作更加輕松。
特點(diǎn)
高端通用X射線熒光分析儀,用于根據(jù)ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)自動測量超薄鍍層(0.05μm)百萬分之一以下的精細(xì)材料分析
使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測器(SDD 50 mm2)
6種可切換基本濾片和4種可切換準(zhǔn)直器優(yōu)化測量條件
分析輕元素,例如鋁,硅和磷
樣品高度高達(dá)14厘米
高精度,可編程XY工作臺,定位精度為5 μm,用于小型結(jié)構(gòu)的自動測量;
結(jié)構(gòu)堅(jiān)固,可進(jìn)行連續(xù)測試,具有卓越的長期穩(wěn)定性
經(jīng)過認(rèn)證的全面防護(hù)裝置
應(yīng)用
測試電子和半導(dǎo)體工業(yè)中的極薄涂層,例如厚度小于50nm的金和鈀層;
在汽車制造業(yè)中測量硬質(zhì)材料涂層
在光伏行業(yè)中測量鍍層厚度
根據(jù)RoHS、WEEE、CPSIA和其他指令(電子,包裝和消費(fèi)品)對有害物質(zhì)如鉛和鎘進(jìn)行痕量分析
黃金,其他貴金屬和合金的分析和真實(shí)性測試
直接測定功能性NiP涂層中磷的含量